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α、β表面污染監(jiān)測儀的使用流程有幾步

更新時間：2025-09-23點擊次數：88

α、β表面污染監(jiān)測儀具備大面積探測窗，探測器效率高，可適用于各種場合的表面污染測量。主要用于α、β放射性表面污染的測量，廣泛用于因可能被污染而必須監(jiān)測的場所，例如：核電廠、再加工工廠、退役或被拆除的核設施、放射性廢物處理廠、醫(yī)院、研究所及各種環(huán)境中的應用，可對墻壁、地板、桌子、手、腳、衣服或其他物品進行表面污染監(jiān)測。α、β表面污染監(jiān)測儀操作流程規(guī)范

　　一、使用前準備
　　(一)環(huán)境確認
　　1. 確認監(jiān)測區(qū)域安全狀態(tài)，設置警戒線或警示標識，穿戴防護服、手套及劑量計。
　　2. 檢查環(huán)境光照條件，保持監(jiān)測儀周圍無強光源直射，避免光學干擾。
　　(二)儀器檢查
　　1. 外觀檢查：查看儀器外殼是否完好，液晶屏無破損，按鍵靈敏，探頭連接牢固。
　　2. 電池電量：開機后確認電量指示≥80%，不足時更換充電電池或接駁外接電源。
　　3. 探頭狀態(tài)：檢查α、β探頭窗口無裂痕、無污染，使用酒精棉片輕拭表面。
　　(三)配件準備
　　1. 準備標準校準源(如^241Am α源、^90Sr-^90Y β源)及校驗用參考污染片。
　　2. 配備記錄本、鋼筆、便攜式照明設備(可選)。
　　二、儀器校準與初始化
　　(一)本底測量
　　1. 將儀器置于待測區(qū)域附近(距離污染源≥1m)，開機預熱5分鐘。
　　2. 進入"本底測量"模式，探頭垂直指向空氣，連續(xù)測量3次，取平均值記錄(例如：α本底=0.02cps，β本底=0.15cps)。
　　(二)能量校準
　　1. 調取儀器內置校準程序，選擇對應放射源類型(α/β)。
　　2. 將標準源貼近探頭(距離≤5mm)，啟動自動校準，調節(jié)閾值至^241Am α峰位(約5.48MeV)或^90Sr-^90Y β譜區(qū)(0.5-2.2MeV)。
　　3. 保存校準參數，誤差范圍應控制在±10%以內。
　　三、表面污染測量流程
　　(一)參數設置
　　1. 根據監(jiān)測目的選擇測量模式：
　　- 快速篩查：靈敏度優(yōu)先，量程0-1000cps，測量時間10秒/點。
　　- 定量分析：精度優(yōu)先，量程0-100cps，測量時間60秒/點。
　　2. 設置報警閾值(默認α≥0.5Bq/cm2，β≥5Bq/cm2)。
　　(二)標準化操作
　　1. 掃描路徑規(guī)劃：
　　- 網格法：按10cm×10cm劃分監(jiān)測區(qū)域，探頭中心對準網格交點。
　　- 螺旋法：從中心向外螺旋移動探頭，覆蓋直徑30cm圓形區(qū)域。
　　2. 測量實施：
　　- 探頭垂直壓緊被測表面(壓力≈5N)，保持3秒穩(wěn)定接觸。
　　- 對于凹凸表面，采用多點測量取平均值(每點測量3次)。
　　- 復雜幾何體(管道、閥門)需多角度測量，記錄最大值。
　　四、特殊情況處理
　　(一)高污染區(qū)域應對
　　1. 當α>50Bq/cm2或β>500Bq/cm2時：
　　- 立即標記紅色警示標簽
　　- 改用遠程操控桿持探頭測量
　　- 增加測量頻次(每30分鐘復測一次)
　　(二)干擾因素排除
　　1. 電磁干擾：關閉手機、對講機等電子設備，保持儀器與高壓設備距離≥2m。
　　2. 濕度影響：環(huán)境濕度>80%時，使用防潮罩包裹探頭。
　　3. 熒光干擾：關閉儀器背光，采用濾光片模式測量。
　　五、測量后處理
　　(一)數據整理
　　1 導出儀器存儲數據至PC端，使用專用軟件生成等劑量圖。
　　2. 對比歷史數據，標注污染趨勢(上升/穩(wěn)定/下降)。
　　(二)儀器去污
　　1. 使用專用去污劑(如0.1M EDTA溶液)擦拭探頭。
　　2. 本底復測：清潔后α本底增幅應<10%，否則需返廠維修。
　　(三)報告編制
　　1. 包括以下要素：
　　- 監(jiān)測日期、時間、天氣條件
　　- 儀器型號、校準證書編號
　　- 測點布置圖及污染分布云圖
　　- 超標點處理建議

有需要了解更詳細內容，可以加我們的工作人員α、β表面污染監(jiān)測儀